詳細(xì)摘要: 日本Lasertec以雙共聚焦光學(xué)系為基礎(chǔ),搭載微分干涉觀察,垂直白光干涉測定,相差干涉測定,反射分光膜厚測定等功能,通常多臺設(shè)備才能完成的測試,僅需一臺設(shè)備即...
產(chǎn)品型號:所在地:北京市更新時間:2025-12-28 在線留言
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詳細(xì)摘要: 日本Lasertec以雙共聚焦光學(xué)系為基礎(chǔ),搭載微分干涉觀察,垂直白光干涉測定,相差干涉測定,反射分光膜厚測定等功能,通常多臺設(shè)備才能完成的測試,僅需一臺設(shè)備即...
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